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王德贵，李振芬，褚霞光，丁柱．薄层深侧向测并仪．测井技术，１９９４，１８（５）：３７８～３８３薄互层剖面的合理评价要求电法测井具有纵向高分辨率和径向深探测范围。这是长期以来没有解决的矛盾，薄层深测向测井使这一难题得到初步解决。经测井资料分析表明其分辨率达０．１ｍ、探测深度与深三侧向相当；可用于确定岩性，扣除储集层中的钙质、泥质夹层，准确地划分有效厚度，是判断水淹层、评价储层参数的较好方法。本文就该仪器参数、指标，研制技术要点及依据作了介绍。