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利用新开发的热分析技术研究了Al-20Si-1．5Cu-1Ni-0．5Mn合金的初晶Si变质效果。通过对不同的P变质剂加入量和保温时间下的热分析曲线和金相组织的分析表明，随着P加入量的增加（≤0．08％），初晶Si平均晶粒尺寸减小，初晶生长温度死及其差值△TG不断增大；在变质处理后不同的保温时间下平均晶粒尺寸及△TG都变化不大。初晶生长温度差值△TG与平均晶粒尺寸具有很好的对应关系，△TG可以作为初晶Si变质效果的评判依据。