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内场限环结构横向MOS晶体管的优化分析
内场限环结构横向MOS晶体管的优化分析
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:q18198837
【摘 要】
:
讨论了内场限环结构对LDMOST耐压的影响,采用直接积分的方法推导出内场限环表面参杂浓度的精确优化公式。同时,分析了内场限环LDMOST的优化的耐压。计算结果与二维数值模拟结果符合得较好。
【作 者】
:
唐本奇
高玉民
【机 构】
:
西安交通大学
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
1997年3期
【关键词】
:
LDMOST
高压集成电路
MOS晶体管
【基金项目】
:
国家自然科学基金
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讨论了内场限环结构对LDMOST耐压的影响,采用直接积分的方法推导出内场限环表面参杂浓度的精确优化公式。同时,分析了内场限环LDMOST的优化的耐压。计算结果与二维数值模拟结果符合得较好。
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