论文部分内容阅读
采用开管方式和SiO2/Si系统,实现了P型杂质Ga在硅中的可控制掺杂.借助二次离子质谱(SIMS)和扩展电阻(SRP)分析方法,对已掺Ga的杂质硅,在二次氧化过程中产生的分凝效应进行了系统研究,首次得出Ga分凝的规律性,导出了Ga在SiO2-Si内界面Si一侧最低浓度值随时间变化的表达式.为全面理解Ga的扩散特性和建立开管扩Ga模型奠定了基础.