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以阳离子表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵（CTAB）作为模板剂，正硅酸乙酯（TEOS）作为硅源，在强碱性条件下，加入过渡金属氧化物偏钨酸铵合成得到WSiOx介孔分子筛，使用乙酰丙酮作为助剂，考察其对孔结构的影响，通过X射线衍射仪（XRD）、N2吸附-脱附、原位红外（FY-IR）、扫描电镜（SEM）表征手段对合成出的WSiOx分子筛的结构性能进行研究。随着W质量分数的增加，介孔特征衍射峰的有序度增加，质量分数大于6％后有序度下降；W的加入没有破坏介孔分子筛的骨架结构。最后的结果得到，最佳W质量分数为5％，模板