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该文利用场发射显微镜对单壁碳纳米管的逸出功进行了研究和测量，未进行加热除气的单壁碳纳米管的表面吸附大量气体。此时测量的逸出功不是清洁表面单壁碳纳米管的逸出功，实验首先加热除气得到单壁碳纳米管的场发射清洁像，然后利用场发射显微镜测量I-V曲线，得到Fowler-Nordheim直线斜率；再利用透射电镜观测单壁硕纳米管微束形貌像，测量管束半径，通过三种公式估算比例因子β，最后计算得到单壁碳纳米管的逸出功。