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运用偏振衰减全反射傅立叶变换红外光谱技术(ATR-FTIR),研究了Si(111)在不同比例的NH4F-HCl溶液中腐蚀后的表面形态.通过分析表面振动模型的偏振波长及红外粗糙因子,表明在较低的PH 值的NH4F-HCl溶液中腐蚀的Si(111)表面粗糙度较大,与通过扫描隧道显微镜(STM)技术测量的结果基本一致.