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故障预测是实现电路健康预报的关键技术，对比提出一种基于高斯过程回归（GPR）的方法开展单端初级电感变换器（SEPIC）故障预测研究。通过分析电路关键元器件退化对电路性能的影响，选取输出电压均值作为故障特征参数，依据历史数据建立退化模型，并采用GPR进行递推预测。分析了不同核函数和建模数据规模对预测结果的影响，并与最小二乘法进行对比，验证了所提方法的有效性和准确性。