论文部分内容阅读
从APD阵列的响应特性出发，利用随机点的统计学描述，建立了光子计数成像的一维点过程数学模型。通过对光子事件发生时间统计特性的描述，分析了光子密度、门控时间、雪崩光电二极管恢复时间等因素对光子计数成像质量的影响。并采用蒙特卡罗方法，对近红外波段不同光子密度条件下多种计数间隔的成像质量进行了仿真，给出了仿真结果。