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针对民用机载电子硬件的现场可编程门阵列（FPGA）芯片高使用频率和长时间运行的特点，以及联邦航空管理局（FAA）等提出的审查条例对单粒子翻转效应（SEU）的防护要求，介绍了民用机载电子硬件的SEU效应评估研究的必要性。并且从民用机载电子硬件主流的三模冗余容错电路入手，设计了SEU效应仿真测试电路。将冗余系统与多时钟沿触发相结合，提高了系统的检错能力。对冗余系统进行仿真SEU故障注入，通过与参照单元的比较，可对SEU效应引起的失效的发生进行仿真测试。