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,Characterization of tetragonal distortion in a thick Al0.2Ga0.8N epilayer with an AlN interlayer by
【机 构】
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State Key Laboratory of Nuclear Physics and Technology, Peking University, Beijing 100871, China“,”C
【出 处】
：
中国物理B（英文版）
【发表日期】
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2014年9期
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