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位置敏感探测器是基于PN结横向光电效应的光电器件，在使用时通常会受到杂散光的影响。以往对PSD受杂散光影响的分析是基于实验或根据PSD的位置计算公式近似分析，不是很精确。基于Lucovsky方程，采用偏微分方程求解软件FiexPDE对二维PSD受杂散光的影响进行了数值仿真。结果表明，对于杂散光的干扰，位置网格图向PSD中心收缩，对于均匀杂散光而言，此收缩是对称的，而对于非均匀杂散光，此收缩是不对称的。该方法可以很方便地对PSD受杂散光的影响进行分析。