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表面分形分析已开展多年，虽然在涉及制造过程控制方面时出现过一些争论，但已获得了许多有意义的结果与此同时，用分形来研究表面功能特性所取得的进展有限，其原因之一是，以前分形的重点在于功率谱，而不是对于空间更为敏感的自相关函数．基于此，笔者首次将分形参数引入到基于自相关系数的表面功能参数．进展有限的另一原因是，与表面功能相关的许多确定性实验没有将分形参数包含在参数集中，这主要是由于过去没有能够给出分形参数的表面光洁度仪器，从而失去了确定分形参数价值的可能性．文中提出了一种新的、简单的测量分形特性的方法，它不仅能