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微区薄层电阻四探针测试仪及其应用
微区薄层电阻四探针测试仪及其应用
来源 :现代仪器 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yingzi1100
【摘 要】
:
用斜置的四探针方法,依靠显微镜观察,将针尖置于微区图形的四个角区,用改进的范德堡公式可以得到微区的薄层电阻。本文对测准条件作了分析。并用该仪器测定了硼扩散片的薄层电阻
【作 者】
:
孙以材
孟庆浩
【机 构】
:
河北工业大学电气信息学院
【出 处】
:
现代仪器
【发表日期】
:
2000年1期
【关键词】
:
微区薄层电阻
范德堡法
四探针测试仪
计算机
Sheet resistance for microareas Probe technique A modifie
【基金项目】
:
国家自然科学基金资助课题,天津市发明三等奖(1998),天津市技术监督局认定(1997)
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用斜置的四探针方法,依靠显微镜观察,将针尖置于微区图形的四个角区,用改进的范德堡公式可以得到微区的薄层电阻。本文对测准条件作了分析。并用该仪器测定了硼扩散片的薄层电阻分布。在测试过程中应用微处理器,加快了计算速度。
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