用于尺寸检测的CCD信号处理电路及微机接口

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【摘要】

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本文提出了具有较强通用性的尺寸检测用CCD信号处理电路.由于采用了差动放大浮动阈值、缺陷自动排除等技术,使照度变化及器件温漂等影响得到了自动补偿,从而输出精确的二值化

【作者】

：

朱石雄

【机构】

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轻工部甘蔗糖业研究所

【出处】

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半导体技术

【发表日期】

：

1987年3期

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本文提出了具有较强通用性的尺寸检测用CCD信号处理电路.由于采用了差动放大浮动阈值、缺陷自动排除等技术,使照度变化及器件温漂等影响得到了自动补偿,从而输出精确的二值化信号.本文还提出用Z—80CTC直接处理二值化信号,实现处理电路与微机的中断联系接口.此外利用低速A/D、D/A实现了信号处理电路的程序控制,提高了测量精度,扩大了测量系统的适用范围.

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