论文部分内容阅读
采用通常的固相反应方法在不同烧结条件下制备了钙钛矿氧化物La1-xSrxCoO3（0≤x≤0．5）系列样品，通过粉末X射线衍射分析确定了体系的结构，由Rietveld方法拟合得到晶格参数随Sr掺杂量的变化．在80K-300K温度范围的直流电阻率测量表明，材料的电性质在x=0．2和0．3之间展示了从半导体到金属的相变．x=0．2样品已接近绝缘体-金属（I—M）相变的边缘．研究结果表明La1-xSrxCoO3体系的I—M相变不仅依赖于Sr浓度x，也依赖于样品的制备技术．并对结构与电阻率的关系进行了讨论．