MgO薄膜二次电子发射系数测量装置的设计

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Mg O薄膜的二次电子发射系数 γ在彩色等离子体显示器的研究中是一个非常重要的参数。因此 ,准确的测量 Mg O膜的二次电子发射系数是很有必要的。本文分析了在二次电子发射系数测量中最容易出现的一些问题 ,并从 Mg O膜的二次电子发射机理入手 ,阐述了一种测量二次电子发射系数的方法。这种方法在实践中证明是行之有效的。 The secondary electron emission coefficient γ of MgO thin film is a very important parameter in the research of color plasma display. Therefore, it is necessary to accurately measure the secondary electron emission coefficient of MgO film. In this paper, some problems that appear most easily in the measurement of the secondary electron emission coefficient are analyzed. Based on the secondary electron emission mechanism of the MgO film, a method of measuring the secondary electron emission coefficient is described. This method proved to be effective in practice.
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