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1前言在熔渗法生产CuCr50触头中经常会出现触头经车床精车后,在自然光下观察表面会出现较多像针眼大的黑点,在100倍显微镜下观察实际这些黑点为60～140μm的凹坑,而这些凹坑在金相中也会被发现为气孔,因为它们在整个触头基体中是随机分布的,容易导致金相不合格(＞100μm气孔),这些凹坑或气孔的存在必然会影响真空断路器的开断能力和寿命.