一种用于低功耗BIST的多重抑制LFSR结构

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【摘要】

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本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器(LFSR)结构来降低内建自测试(BIST)的功耗.这种结构通过矢量间的距离而不是矢量本身来抑制对测试没有贡献的测试矢量子序列.用来

【作者】

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许舸夫张哲胡晨毛武晋刘锋

【机构】

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东南大学国家专用集成电路系统工程中心

【出处】

：

电子器件

【发表日期】

：

2002年4期

【关键词】

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LFSR BIST 多重抑制距离数线性反馈移位寄存器内建自测试 BIST multiple inhibiting distance number p

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本文提出了一种多重抑制的线性反馈移位寄存器(LFSR)结构来降低内建自测试(BIST)的功耗.这种结构通过矢量间的距离而不是矢量本身来抑制对测试没有贡献的测试矢量子序列.用来估算功耗的电路内部WSA(Weighted Switching Activity)平均降低了80.3%.此外,这种结构的另一个优点是:随着抑制次数的增加,面积开销的增加量要比其他的过滤和抑制技术要小的多.

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