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通过X射线荧光光谱粉末压片法分析烧结矿中的TFe．SiO2、Ca0、MgO、Al2O3等成分的含量，在制样过程中采用标准化研磨方法和二级筛分控制样品的粒度，在光谱仪上测量样品的X射线荧光强度。通过软件计算出样品的化学成分含量。实验结果表明，采用该方法测定的数据结果稳定，精确度高，可满足生产工艺的要求。