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采用相场与浓度场耦合的相场法,对二元单相Ni-Cu合金过冷熔体中的枝晶生长过程,进行了二维数值模拟,研究了各向异性强度对枝晶生长的影响.结果表明, 随着各向异性强度的增大,枝晶尖端生长速度加快,枝晶结构特征愈加明显.各向异性最佳取值范围0.03~0.055之间,能真实反映实际的技晶生长形貌.