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采用显微电子计算机断层扫描检测(CT)对C/C复合材料进行三维成像,通过断层图像观察试样内部的孔隙、裂纹和夹杂等微结构缺陷。结合阈值分割法等分别实现了孔隙、裂纹和夹杂的三维分割与提取,并进行了定位、定量分析。通过统计分析得到区域存在15 261个孔隙、25个夹杂。孔隙平均直径为04.1mm,732.5%的孔隙直径小于04.1mm,大部分的孔隙呈球形或近球形结构,体积孔隙率为75.6%。通过显微CT的高分辨率重建了C/C复合材料的结构特征,对内部微结构进行了特征提取与统计量化分析。