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对于FPGA的测试算法，提出了一种基于遗传算法（GA）和LFSR方法的测试向量产生改进算法，采用改进的算法对测试向量对进行选取和排序，并在响应分析时采用改进的多输出电路TC测试法进行响应分析。测试实验在哈尔滨工程大学嵌入式实验室进行，试验结果表明算法的优点是对双矢量进行排序，可对时延故障进行有效的测试。