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通过X射线吸收近边结构(XANES )、超导量子干涉仪和第一性原理计算研究了脉冲激光沉积法(PLD)制备的Ni1- x Mnx O (0.01≤x≤0.05)薄膜的微观结构和磁学性质.X射线吸收近边结构表明,当x≤0.03时,掺杂的M n替代了NiO晶格中的Ni原子,并且以混合价态(+2/+3)的形式存在.当x>0.03时,掺杂的部分Mn离子形成了类Mn2 O3杂相.磁性测量表明,随着Mn含量从0.01增加到0.03, Ni1- x Mnx O薄膜的饱和磁矩从0.3μB/Mn增加到了0.45μB/Mn .