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2008年4月30日，美国吉时利（Keithley）仪器公司（NYSE代码：KEI）宣布增强了其自动特征分析套件（ACS，automated characterization suite）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的圆片级可靠性（WLR，wafer level reliability）备选测试工具。