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利用脉冲激光沉积法在带有Y2O3、YSZ隔离层的金属基带上制备了CeO2帽子层。主要讨论了温度、激光脉冲频率对CeO2隔离层的影响，用X射线θ～2θ扫描、Φ扫描对薄膜的取向和织构进行表征。结果表明在温度为610℃、激光频率为10Hz、1Pa氧压下制备的CeO2隔离层能有效地继承衬底的织构，平均平面内中扫描半高宽度为6．9°。扫描电镜可以观察到薄膜表面致密且无裂纹，原子力显微镜观测表面平均粗糙度在10nm以下。