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高级综合结果中常量元件和输出悬空端口导致门级工艺映射结果中存在显式冗余 .显式冗余无助于提高电路性能 ,反而增加功耗 ,降低电路的可测试性 ,使电路面积增大 ,应予消除 .文中提出了显式冗余的队列循环优化算法 ,完全消除了此类冗余 ,从而有效地减少了生成电路的基片面积 ,提高了电路的可测试性 .