外压对氢氧化铝晶体电子结构及谱学性质的影响

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用CASTEP程序计算不同外压下氢氧化铝的电子结构与谱学性质,分析外压对体系能带结构、态密度及光学性质的影响。计算方法选用基于密度泛函理论(DFT)的广义梯度近似(GGA)方法,用PBE函数进行交换相关系修正。能带结构计算结果表明,在较高外压下,如10.0和20.0GPa,体系的能带结构较低外压下变化明显;体系各k-point点的能隙值随外压的增加均呈增大的趋势,由此也可预测外压应该对体系的光学性质有一定的影响。态密度计算结果表明,外压对最低能组态密度最高峰值影响最明显,其降低幅度分别达到15%和20%,
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