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采用标准加入法,以X射线荧光光谱仪测定稀土精矿中硅和铝,不需要用α系数校正复杂的基体效应。由于用先进的仪器分析代替了常规的化学分析,提高了分析速度,分析范围为0.07—1%。
稀土精矿中硅和铝的X射线荧光光谱法测定
【摘 要】
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采用标准加入法,以X射线荧光光谱仪测定稀土精矿中硅和铝,不需要用α系数校正复杂的基体效应。由于用先进的仪器分析代替了常规的化学分析,提高了分析速度,分析范围为0.07—1
【机 构】
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江西省分析测试研究所,江西省分析测试研究所南昌330029,南昌330029
【出 处】
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分析试验室
【发表日期】
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1990年1期
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