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介绍用于测量ＭＯＳ电容、ＭＯＳＦＥＴ、半导体元器件和集成电路辐照效应的微机测试系统及其功能，并给出该系统在半导体辐射损伤研究甲的应用实例．
半导体器件与电路辐照响应测试系统
【摘 要】
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介绍用于测量ＭＯＳ电容、ＭＯＳＦＥＴ、半导体元器件和集成电路辐照效应的微机测试系统及其功能，并给出该系统在半导体辐射损伤研究甲的应用实例．
【机 构】
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中国科学院新疆物理研究所
【出 处】
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核技术
【发表日期】
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1994年9期
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