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超辐射发光二极管（SLD） 集LD大输出功率和LED宽光谱优点于一体， 是光纤陀螺仪中的关键元件与薄弱环节，其可靠性在很大程度上决定了光纤陀螺仪的可靠性。 针对 SLD 寿命长、失效数据难于获取的特点，研究了基于性能退化数据的可靠性评估方法。 在对 SLD 进行失效机理分析的基础上，提出用一维漂移布朗运动模型对产品在环境应力作用下的退化特性进行建模，基于所得模型，由 SLD 的性能退化信息估计模型中的参数进而评估得到 SLD 的可靠性指标。 这克服了传统可靠性分析方法依赖寿命数据的缺点，能够在没有寿命数据