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提出一种基于图的Laplace谱的点模式匹配算法.该方法在每次迭代过程中,利用Laplace矩阵的特征向量和双随机矩阵计算点之间的匹配概率,然后求解已知匹配点之间的TPS(thin platespline)变换关系,再利用获得的TPS变换参数使待匹配点集相互逼近.随着点集的接近,由Laplace谱分析方法获得的匹配精度也随之提高.对真实和合成数据的实验验证了该方法的有效性.