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内建自测试是降低ADC电路测试成本的有效方法.通过最小二乘法和斜坡柱状图,我们得出了测试ADC电路的增益误差、失调误差、微分非线性和积分非线性的算法.根据这些测试算法,介绍了一种易于片上集成的内建自测试结构.实验结果表明,该内建自测试方案具有较高的测试精度.
一种有效的ADC内建自测试方案
【摘 要】
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内建自测试是降低ADC电路测试成本的有效方法.通过最小二乘法和斜坡柱状图,我们得出了测试ADC电路的增益误差、失调误差、微分非线性和积分非线性的算法.根据这些测试算法,介
【机 构】
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东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心
【出 处】
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电子器件
【发表日期】
：
2003年2期
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