基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型

来源 :舰船电子工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:jianyi8999
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首次将软件可靠性模型与软件圈复杂度进行了关联,将软件圈复杂度划分为三个等级:普通、复杂、特别复杂。针对不同等级的圈复杂度,分别从代码状况、可测性、可维护性、对测试人员能力的要求、对开发人员能力的要求5维角度进行了充分分析,从而给出了基于软件圈复杂度相关的不完美排错可靠性增长模型。在进行可靠性模型建模的同时综合考虑了故障的检测率、故障排错率、排错时故障的引入率三大因素,最后将该方法应用于一组实验数据进行分析,证明了该方法的可用性,同时将该模型的拟合数据与现有模型的拟合数据进行了比较,证明了该方法的有效性。
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