SoC芯片关键测试技术综述

来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zmy_java
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逐渐增大的集成度使得SoC芯片测试面临诸多新挑战。首先,概述了SoC芯片关键测试技术的国内外研究现状;然后,从SoC芯片系统级验证、SoC芯片高速信号测试和测试优化3个部分介绍了当前业界降低测试成本、提高芯片产品可靠性的关键技术手段;最后,展望了SoC芯片测试技术的发展方向。
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