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SoC芯片关键测试技术综述
SoC芯片关键测试技术综述
来源 :电子产品可靠性与环境试验 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zmy_java
【摘 要】
:
逐渐增大的集成度使得SoC芯片测试面临诸多新挑战。首先,概述了SoC芯片关键测试技术的国内外研究现状;然后,从SoC芯片系统级验证、SoC芯片高速信号测试和测试优化3个部分介绍
【作 者】
:
龙伊雯
王小强
罗军
江凯
孙宇
【机 构】
:
工业和信息化部电子第五研究所元器件检测中心,工业和信息化部电子第五研究所
【出 处】
:
电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
:
2020年5期
【关键词】
:
片上系统
系统级验证
高速信号测试
测试优化
SoCsystem-level verificationhigh speed signal testingtest
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逐渐增大的集成度使得SoC芯片测试面临诸多新挑战。首先,概述了SoC芯片关键测试技术的国内外研究现状;然后,从SoC芯片系统级验证、SoC芯片高速信号测试和测试优化3个部分介绍了当前业界降低测试成本、提高芯片产品可靠性的关键技术手段;最后,展望了SoC芯片测试技术的发展方向。
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