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采用磁控溅射法制备了系列[Co0.55mm／Cu]30（t=0．6，0．9，1．2，1．5，1．8，2．1，2．4，2．7，3．0）非连续多层膜样品，并利用四探针法研究了Cu层厚度、退火温度以及周期数对薄膜巨磁阻（GMR）效应的影响。磁电阻测量表明，随着非铁磁层Cu层厚度的增加，薄膜样品的GMR效应总体呈下降趋势，并出现了振荡现象；经退火处理后，薄膜的GMR效应呈先增大后减小的趋势，在350℃达到最大，为．5．1％；薄膜的GMR效应随着周期数的增加而增大，当周期数为50时趋于恒定。