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摘要：限压型电涌保护器（SPD）的老化问题，经分析是由于ZnO压敏电阻内部的离子迁移导致肖特基势垒的畸变，从而引起泄漏电流与压敏电压增加等。通过对几组ZnO压敏电阻在老化环境下的试验，分析老化前后压敏电阻性能参数的变化，得到如下结论：交流老化过程中，压敏电压和漏流存在一定的逆老化现象．但压敏电压和漏流随老化呈增长趋势；（爹交流老化时，压敏电阻温度的升高与加热时间、施加电流以及老化程度有关，伏安特性曲线发生对称漂移；（萤交流老化之后，压敏电阻内阻的变化不大．且局部有降低的趋势，分布电容、阻抗和非线性系数的变