用于成品率分析芯片的LVS方法

来源 :计算机工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户：sufe_

【摘要】

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研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS万法.该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题.

【作者】

：

申飞史峥藩伟伟严晓浪

【机构】

：

浙江大学超大规模集成电路研究所,杭州,310027

【出处】

：

计算机工程

【发表日期】

：

2004年期

【关键词】

：

成品率分析芯片形式验证 LVS技术有序二叉判定图

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研究成品率分析芯片的特点和设计流程,提出适用的LVS万法.该方法结合传统的LVS及形式验证,能够解决成品率分析芯片中违反设计规则、版图和电路图不匹配等特殊结构的验证问题.将该方法与传统验证流程相融合,用于成品率分析芯片的设计和验证.实验结果证明,成品率分析芯片验证流程具有正确性和稳定性.

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