[摘 要]用直接粉末压片法，采用（GBW01704～01708）国家转炉渣标准物质，制作了X射线荧光光谱仪用来分析转炉渣的工作曲线，并对基体效应校正进行了介绍，给出了校正前后的分析结果对比，探讨了校正元素的选用问题。
　　[关键词]X荧光光谱法；转炉渣；基体效应校正；直接粉末压片法
　　中图分类号：TH223 文献标识码：A 文章编号：1009-914X（2015）10-0383-01
　　在企业单位中，采用X射线荧光光谱法来分析转炉渣的化学成分较多，但是结果准确度相对于化学方法偏低。本文论述了在X射线荧光光谱仪中，采用基体效应校正方法对转炉渣曲线进行校正，使结果的误差得到降低，准确度提高，分析曲线的线性得到改善。
　　1 實验部分
　　1.1 仪器
　　岛津XRF-1800顺序扫描型X射线荧光光谱仪，4kW铑靶X射线管；BP-1型粉末压片机，工作压力40MPa。
　　1.2 仪器工作条件
　　X射线管电压40kV，管电流70mA，面罩直径选用20mm，其余测定条件见表1。
　　其中Ca元素选用了衰减器以降低其非常高的计数率，使其强度将衰减1/20，Fe元素选用的高分辨率狭缝（Res），目的也是降低其高的计数率，强度约衰减为1/2.5，这样所有的待分析元素在相同的电压（40kV）和电流（70mA）下，其最高的荧光强度都不会超过300kcps，均处在检测器的线性范围内，使设备处于稳定与快速的工作状态中。
　　1.3 实验方法
　　1.3.1 标准样品的制备
　　实验选用了国家标准物质（GBW01704～01708）产地为武钢钢铁研究所和中国一级标准物质（GSBH2012-94）产地为鞍钢钢铁研究所，共计6种，其含量见表2.
　　1.3.2 混合样品的制备
　　取以上标准样品任意2种各50%，配制了2个混合样品，用来丰富元素含量梯度，提高曲线准确度，检验曲线的可靠度。其计算含量见表3。
　　使用表1中的所有标准样品制作工作曲线，表2中两个混合样品作为未知样品来考核工作曲线测量的可靠性。
　　2 结果与讨论
　　2.1 工作曲线的基体效应校正
　　该分析方法中有7个元素。对其都进行了基体效应校正，它们也是转炉渣分析中最为关注的对象。
　　仪器自带的操作软件中提供了四种校正模式可供选择，经试验效果都大致相同，我们采用了第一种方法，即Dj方法：
　　德扬（De Jongh）模式[1]
　　Wi=Xi（1+dIjWj+...）-（IjWj+…）
　　J≠I，base
　　Xi=b*Ii+c
　　当系数dIj为负值时，j元素为增强元素；dIj值为正值时，j元素为吸收元素。校正元素的选用遵循相关性，即有增强或吸收效应元素；数量尽可能的少；含量较高的元素。各被校元素及其校正元素和校正系数见表4：
　　从表3中可看出，Si、Ca、Fe、Al、Mn、Ti，5个元素都符合校正元素的选用规则，效果也相当好。以钙元素为例：图1和图2是钙经校正前后的工作曲线图，校正前最大偏差达4.76，校正后最大偏差降为0.223，精确度也由2.64降为0.137。
　　镁元素的校正系数多达5个，且校正系数也不符合常规，但校正系数都不是很大，校正效果也相当不错。经反复试验验证，采用了这种校正方法，因为这种校正方法本身就是经验系数法。
　　图3和图4是镁元素校正前后的工作曲线图，最大偏差由校正前的1.49降为0.11，精确度也由0.93减少为0.05。
　　2.2 自检测与未知样品的测试结果
　　用校正后的曲线将制作曲线的6个样品都进行了自测，选用其中与标准值符合最好与最差两个样品的结果和表2中两个样品作为未知样品的结果列出表5。
　　并对GBW01706+01704样品进行了10次测量，取其平均值，标准偏差和相对偏差列于表6.
　　从分析结果看，经过校正后的转炉渣工作曲线是可靠的，XRF-1800仪器的精确度和重复性都是良好的。
　　参考文献
　　[1] 梁钰.X射线荧光光谱分析基础[M].北京：科学出版社，2007.