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针对SRAM内建自测试（MBIST）,介绍几种常用的算法,其中详细介绍March C＋算法,在深入理解March C＋算法的基础上对其提出改进,以此提高MBIST的故障覆盖率。并且利用自顶向下设计方法,Verilog HDl设计语言、设计工具等设计MBIST电路及仿真验证,证明了本设计的正确性和可行性。