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基于加法器测试生成,提出了无限脉冲响应(IIR)滤波器的一种通用可测性设计、测试方案.在测试模式下,通过切断IIR滤波器中的反馈回路提高了该设计的可测性.通过复用原电路中的部分寄存器和加法器来提高其可测性,降低了额外的测试硬件面积开销.该方法能在真速下高效地侦测到IIR滤波器基本组成单元内的任意固定型组合失效,没有降低电路性能.