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首先利用量子旋转门动态调整策略和并行跳跃基因对量子进化算法进行改进.在功耗约束条件下,采用重用NoC测试访问机制和XY路由算法,利用改进量子进化算法将测试数据分配到不同的TAM上寻找最优测试方案.最后以ITC′02基准电路作为实验对象对算法进行仿真验证.实验结果表明,经过改进后的量子进化算法对NoC测试规划优化明显,能快速收敛得到最优解,大大降低了系统的测试时间.