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用直流磁控溅射技术制备CuNiIn 薄膜,研究了电源脉冲偏压对钛合金基体结构和力学性能的影响.采用热电偶丝实时监控沉积过程中的基体温度变化,利用截面金相法对比分析了基体在膜层制备前后结构和形貌的变化情况,利用高温拉伸试验机测量了有CuNiIn 膜层的试样和无膜层试样的抗拉强度和弹性模量.结果表明：20% 低占空比、500V 的脉冲偏压下,基体沉积过程中的温度可保持在300℃以下;膜层制备过程对钛合金基体组织和力学性能的影响很小.