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采用水热合成技术,制备了HfO2胶体,用旋涂法镀制了单层HfO2介质膜。采用XRD,椭偏仪,红外光谱(FTIR)等方法对薄膜进行了测试和表征,用输出波长为1064nm,脉宽为10ns的电光调Q激光系统产生的强激光测试其激光损伤阈值。研究了热处理温度对薄膜厚度、折射率、红外光谱、晶态以及激光损伤阈值的影响,并对薄膜的激光损伤形貌进行了分析。研究结果表明:HfO2薄膜的折射率可达到1.655;采用150℃左右的温度对薄膜进行热处理可以提高薄膜的激光损伤闽值,此时薄膜的激光损伤阈值高达42.32J/cm^2(1