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[学位论文] 作者：严鲁明,,
来源：合肥工业大学 年份：2013
工艺尺寸的急剧缩小,使得数字电路的性能得到了大幅度的提高。但是与此同时,也给数字电路的可靠性问题带了更多新的挑战。纳米工艺条件下,老化是影响数字电路可靠性的主要问...
[学位论文] 作者：严鲁明,
来源：合肥工业大学 年份：2009
基于构件的软件开发作为一种新的软件开发方式在软件开发过程中得到了广泛的使用。该方法通过对已有构件的组装来开发新的应用软件,而应用软件的功能是通过其内部组成构件之...
[期刊论文] 作者：李心科, 严鲁明,,
来源：计算机应用研究 年份：2009
针对构件的变化性问题一直都是基于构件的软件工程（CBSE）中的一个关键问题，首先对构件模型以及构件匹配原则进行形式化描述，构造了构件的接口关系矩阵；然后根据构件匹配原则，对构件......
[期刊论文] 作者：严鲁明,梁华国,黄正峰,,
来源：电子测量与仪器学报 年份：2013
集成电路工艺水平进入深亚微米时代后，电路老化效应已成为威胁电路可靠性的新挑战。对电路老化导致的电路失效防护问题进行研究，提出了一种基于时．空冗余技术的失效防护方法。该......
[期刊论文] 作者：邢璐,梁华国,严鲁明,张丽娜,余天送,,
来源：计算机科学 年份：2014
随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小,电路可靠性问题日益严重,而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出.由于实际电路大多比较复杂,路径较多,如果对所有路径进行老化预测,工...
[会议论文] 作者：刘彦斌,黄正峰,梁华国,史冬霞,严鲁明,
来源：第七届仪表、自动化与先进集成技术大会暨第六届测控技术与仪器仪表学术大会 年份：2012
ESD问题随着工艺尺寸不断减小而变得日益突出，本篇文章主要实现了基于片上系统的二极管和栅接地NMOS管两种ESD防护电路，通过对两种ESD防护电路的分析与比较，并运用TCAD器件...
[期刊论文] 作者：徐辉,梁华国,黄正峰,汪静,李志杰,李扬,严鲁明,,
来源：电路与系统学报 年份：2012
负偏置温度不稳定性引起的晶体管老化已经成为影响集成电路可靠性的重要因素。高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪......
[期刊论文] 作者：徐辉,梁华国,黄正峰,汪静,李志杰,李扬,严鲁明,,
来源：电路与系统学报 年份：2004
负偏置温度不稳定性引起的晶体管老化已经成为影响集成电路可靠性的重要因素.高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路,而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪...
[会议论文] 作者：Shi Dongxia,史冬霞,Huang Zhengfeng,黄正峰,Yan Luming,严鲁明,Liang Huaguo,梁华国,
来源：2012年中国仪器仪表学术、产业大会 年份：2012
随着集成电路工艺尺寸的不断缩小,辐射引起的软错误已经成为影响芯片可靠性的重要因素之一.为了减轻辐射环境中D触发器受单粒子翻转的影响,本文实现了一种低开销的加固触发器(LHFF).该结构是基于时间延时的异构双模冗余设计,针对单粒子翻转进行防护.Spice模拟结......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,Huang Zhenfeng,梁华国,黄正峰,Li Yang,Yan Luming,Chan Hao,李扬,严鲁明,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通......
[会议论文] 作者：Xu Hui,徐辉,Liang Huaguo,梁华国,Huang Zhenfeng,黄正峰,Li Yang,李扬,Yan Luming,严鲁明,Chan Hao,常郝,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
高扇入多米诺或门是高性能集成电路中常用的动态电路，而负偏置温度不稳定性降低了多米诺或门的噪声容限并增大了其传输时延。本文提出了带有补偿晶体管的多米诺或门结构，通过开启补偿电路，使电路在老化以后仍然能够保持其抗干扰能力和传输延时，有效的延长了多米诺电......
[会议论文] 作者：Luming Yan,Hui Xu,严鲁明,徐辉,Huaguo Liang,Zhengfeng Huang,Yanbin Liu,Dongxia Shi,梁华国,黄正峰,刘彦斌,史冬霞,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行......
[会议论文] 作者：Luming Yan,严鲁明,Huaguo Liang,梁华国,Zhengfeng Huang,黄正峰,Hui Xu,徐辉,Yanbin Liu,刘彦斌,Dongxia Shi,史冬霞,
来源：第七届中国测试学术会议 年份：2012
集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟技术控制时序单元.实验数据表明，本......
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