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集成电路工艺水平提高的同时，老化效应严重威胁了电路的可靠性.本文针对电路老化导致失效的问题进行研究，提出了一种基于时-空冗余技术的失效防护方法.该方法针对老化的行为特征，采用冗余的时序单元对数据路径进行加固，并通过多时钟技术控制时序单元.实验数据表明，本方法在ISCAS89电路中的平均面积增长率为41.43％；在冗余时钟相位差达到时钟周期的20％时，可以有效将电路的平均故障间隔时间(MTTF)提高1倍以上.