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[期刊论文] 作者：安连涛,范桂洋,,
来源：微处理机 年份：2012
通过晶体管上铝布线热熔的案例,详细介绍了失效分析过程,揭示了导致铝布线热熔的主要原因,为避免出现类似问题提供了改进的依据。...
[期刊论文] 作者：岳震,徐玲,安连涛,,
来源：微处理机 年份：2009
以传输线脉冲（TLP）为例,研究了由静电放电脉冲应力产生的氧化层陷阱电荷Qot^＋的特性。当氧化层厚度为3.2nm时,无论是直流还是TLP脉冲应力,其导致氧化层击穿的正氧化层陷阱电荷Qo...
[期刊论文] 作者：岳震, 袁晓岚, 安连涛,,
来源：信息技术与标准化 年份：2008
研究一种制作在集成电路压焊点金属下面的以二极管为基本单元的静电放电保护结构，这样减小了为制作静电保护电路而消耗的面积。这种结构用金球或铝楔入压焊的方法，用三层或四层......
[期刊论文] 作者：岳震,李艳兰,安连涛,
来源：微处理机 年份：2008
栅电介质击穿是MOSFET器件工作中主要的失效模式之一。由击穿而引起的栅泄漏不仅是电损耗增加的问题，而且对漏电流造成很大的影响。采用最新工艺制成的超薄栅电介质，把由击穿产......
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