搜索筛选:
搜索耗时3.8964秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 1 篇相符的论文内容
发布年度:
[会议论文] 作者：房纪涛[1]于树松[2]丁香乾;石硕;,
来源：2009中国仪器仪表与测控技术大会 年份：2009
研究利用统计公差技术，构建Cp-k平面内的面向不合格品率的统计公差带模型，建立过程能力指数Cp、过程偏移系数k和产品小合格晶率Pd的关系模型。统计公差对质龄小合格品率的保证...
相关搜索：
