搜索筛选:
搜索耗时0.4798秒,为你在为你在102,285,761篇论文里面共找到 45 篇相符的论文内容
发布年度:
[期刊论文] 作者：游俊富,,
来源：物理测试 年份：1990
在CAMECA SMI-300型离子探针上摸索了用校正曲线法定量测定钢中硫、磷、硼、碳的方法,报道了得到的结果和存在的问题。...
[期刊论文] 作者：游俊富,,
来源：现代科学仪器 年份：1993
本文介绍了一种新型的非单色软X射线作为激光源的扫描俄歇显微镜。简要介绍了,这种仪器的原理、结构、性能特点、及应用。...
[期刊论文] 作者：游俊富,,
来源：现代科学仪器 年份：1992
一、引言电感耦合等离子体质谱仪(ICP MS)是近十多年来才发展起来的一种新的痕量无素分析仪器。与传统的火化源质谱(SSMS)相比它因具有灵敏度高,谱线简单,干扰少,基体效...
[期刊论文] 作者：游俊富,
来源：质谱学报 年份：1994
在用离子探针测定ＬｉＮｂＯ３晶体时，电荷积累会反过来阻止一次离子束的轰击，本底噪音和多原子离子干扰会影响测定的信号。本文报道了我们的测定方法、结果和存在问题。...
[期刊论文] 作者：游俊富,
来源：质谱学报 年份：1989
本文介绍近年发展的辉光放电质谱计的原理、结构、特性及其应用。...
[期刊论文] 作者：游俊富,,
来源：分析仪器 年份：1988
在质谱仪和离子显微镜基础上发展起来的直接成像型离子探针质量分析器,在微区微量分析、表面分析、深度分析、同位素分析、轻元素检测方面有其独特的优点.本文介绍离子探针在...
[期刊论文] 作者：游俊富,,
来源：物理测试 年份：1988
介绍了用CAMECA SMI-300型离子探针对钢铁、矿石、耐火材料进行微区、微量分析和深度分析方法。作者在实验中摸索出了测定不导电或导电不佳的平面状、颗粒状、粉末状样品的方...
[期刊论文] 作者：游俊富,
来源：质谱学杂志 年份：1984
用校正曲线法,用CAMECA SMI-300型离子探针对低合金钢中的某些微量元素进行了定量测定。使用的标样为NBS-461、463、466、468。平均标准偏差为4.24%。Using calibration cu...
[期刊论文] 作者：游俊富,
来源：质谱学报 年份：1987
本文简要介绍近年来国外二次离子质谱法中出现的一些新装置和新仪器的原理、性能及其应用的可能性。...
[期刊论文] 作者：游俊富,
来源：上海计量测试 年份：1998
如所周知,以电感耦合等离子体(ICP)作为电离样品的电离源的质谱仪(MS)常称电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)而以电感耦合等离子体(ICP)作为激发样品的激发源的原子发射光谱仪(A...
[期刊论文] 作者：王虎,游俊富,
来源：上海计量测试 年份：1999
本文介绍了等离子光谱测定液体复合化肥中的硼，锰，锌，钼等元素的方法。与常规的分光光度法和原子吸收法相比，具有方便、快速，多元素同时测定，准确可靠的优点。此方法也可用来测定其......
[期刊论文] 作者：Grant,JT,游俊富,
来源：国外分析仪器技术与应用 年份：1991
...
[期刊论文] 作者：Pavli,P,游俊富,
来源：国外分析仪器技术与应用 年份：1992
...
[期刊论文] 作者：游俊富,徐芳,等,
来源：现代科学仪器 年份：2002
介绍了一种由德国GKSS研究中心A.Prange和D.Schaumloffel设计再经他们与美国CETAC公司联合，进一步开发成功的供毛细管电泳（CE）和电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）联用的商品化的接口-...
[期刊论文] 作者：邱德仁,游俊富,
来源：复旦学报：自然科学版 年份：1999
用自制的步进氢化物发生器和ＩＣＰ光谱仪观察了Ａｓ（Ⅱ），ＡｒｓｅｎａｚｏⅢ，Ａｓ（Ⅴ）的砷化氢发生的不同行为。实验得到分别相应于Ａｓ（Ⅲ），Ａｒｓｅｎａｚｏ，Ａｓ（Ⅴ）３种形态的３个时间分辨信号峰的图形。步进氢化物发生有希望成为氢化元素化学形......
[期刊论文] 作者：游俊富,张茂龙,
来源：上海计量测试 年份：1998
...
[期刊论文] 作者：游俊富,张茂龙,
来源：物理测试 年份：1999
本文介绍了用钻孔应变计法测定金属焊接接头的残余应力的测量方法。用此方法我们测定了核电站反应堆压力容顺径向支承块镍基合金焊接接头和核电站蒸发器管板镍基合金焊接接头...
[期刊论文] 作者：张茂龙,游俊富,
来源：锅炉技术 年份：1997
讨论了实现镍基合金带极电渣堆焊工艺的基本条件，提出了一套完整的ＩＮＣＯＮＥＬ６９０镍基合金带极电渣堆焊工艺，包括试板，焊材，规范参数和必要的辅助工艺措施，并分析了有关影响堆焊层质量的因素。还......
[期刊论文] 作者：冶宏振,游俊富,
来源：科学通报 年份：1992
质量干扰是离子探针分析中经常出现的一种物理化学现象。在用离子探针测量Si中注入杂质的浓度分布时常遇到质荷比[m/e]与待测离子接近的质量干扰离子的质量干扰,从而给...
[期刊论文] 作者：游俊富,王虎,赵海山,
来源：理化检验(物理分册) 年份：2003
扫描探针显微镜是近十几年来在表面特征、表面形貌观测方面最重大的进展之一 ,是纳米测量学的基本工具。叙述了扫描探针显微镜的工作原理、检测模式及在观察检测纳米级的粗糙...
相关搜索：
