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[期刊论文] 作者：董尧德,蒋继红,吴益中,金国通,滕星范,
来源：半导体技术 年份：1985
一、概述我们采用电分析和显微分析相结合的方法,在大量解剖分析失效的硅平面大功率晶体管D402、D10管芯的基础上,对表面引起失效及体内引起失效的机理进行了较为详细的分析...
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